SELTOK INSTRUMENTSЗамовити дзвінок
м. Київ, вул. Машинобудівна 37
+38 (098) 188 15 85; +38 (044) 351 16 05office@seltok-inst.com
Замовити дзвінок
Система для контролю та вимірювання допусків на центрування оптичних систем

Система для контролю та вимірювання допусків на центрування оптичних систем, вимірювання площин астигматичних поверхонь, вимірювання пропускання оптики.

Опис рішення

Вимірювання центрування оптичних систем

Принцип вимірювання

За допомогою високоточого автоколіматора та допоміжної оптики вимірюється відстань між центрами кривизни поверхонь оптичної системи та віссю обертання вимірювального столика. Для цього автоколіматор із допоміжною оптикою переміщується вздовж осі обертання доти, доки фокусна точка допоміжної оптики та зображення центра кривизни вимірюваної поверхні не опиняться в одній площині. Після цього під час обертання вимірювального столика вимірюється траєкторія (коло), яку описує автоколімаційне зображення. Діаметр цього кола є прямим показником кута нахилу поверхні відносно осі обертання.

 

Референціювання оптично неактивних поверхонь
Для референціювання можуть використовуватись торцеві циліндричні поверхні лінз або їх оправ. Вимірювання крайових поверхонь здійснюється паралельно з вимірюванням центрування оптичних поверхонь і може виконуватись як контактним методом, так і безконтактно.
Окрім циліндричних поверхонь, також можуть вимірюватися та використовуватись як референсні, наприклад, горизонтальні опорні поверхні — як за допомогою контактних методів, так і безконтактно.

Вимірювання астигматичних поверхонь
За допомогою субапертурного фокусування автоколіматора ELCOMAT® Focus можна з високою точністю здійснювати зондування відповідних точок вимірювання меридіональної та сагітальної площин астигматичної поверхні, що дозволяє визначити різницю кривизни між цими площинами.
Також може бути виміряно кут між меридіональною та сагітальною площинами, а також положення будь-яких опорних міток, що підлягають референціюванню.

Вимірювання пропускання світла
Окрім вимірювання нахилів окремих поверхонь відносно одна одної, також може бути виконано пряме вимірювання оптичних осей системи відносно відповідних референсних поверхонь у режимі проходження світла.